Nghiên cứu ảnh hưởng của đường kính ống chuẩn trực đầu dò lên bề dày bão hòa trong phép đo gamma tán xạ

Science & Technology Development, Vol 3, No.T20–2017 
Trang 68 
Nghiên cứu ảnh hưởng của đường k nh ng 
chuẩn trực đầu dò lên bề dày bão hòa trong 
phép đo gamma tán xạ 
 Huỳnh Đình Chƣơng 
 Võ Hoàng Nguyên 
 Lê Thị Ngọc Trang 
 Nguyễn Thị Trúc Linh 
 Trần Kim Tuyết 
 Trần Thiện Thanh 
Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Qu c gia thành ph H Ch Minh 
(Bài nhận ngày 08 tháng 12 năm 2016, nhận đăng ngày 26 tháng 07 năm 2017) 
TÓM TẮT 
Ảnh hưởng của đường kính ống chuẩn trực 
đầu dò lên bề dày bão hòa trong phép đo gamma 
tán xạ sử dụng thành phần phổ tán xạ một lần đã 
được nghiên cứu. Bố trí thí nghiệm hình học của 
phép đo gamma tán xạ bao gồm:một chùm tia 
gamma chuẩn trực có năng lượng 662 keV phát 
ra từ nguồn 137Cs được chiếu lên bia nhôm dạng 
tấm phẳng với góc tới 90o và đầu dò NaI(Tl) 
5,1cmx5,1 cm có ống chuẩn trực được sử dụng 
để ghi nhận các tia gamma tán xạ tại góc tán xạ 
120
o
. Các phép đo thực nghiệm được thực hiện 
để thu nhận phổ tán xạ ứng với các bề dày bia 
và đường kính ống chuẩn trực đầu dò khác 
nhau. Thành phần tán xạ một lần và tán xạ nhiều 
lần trong phổ tán xạ được xác định dựa trên một 
kỹ thuật xử lý phổ bằng làm khớp bình phương 
tối thiểu. Các kết quả thực nghiệm cho thấy rằng 
bề dày bão hòa của số đếm tán xạ một lần tăng 
lên với sự gia tăng của đường kính cửa sổ ống 
chuẩn trực đầu dò. Kết quả này sẽ hỗ trợ cho 
việc nghiên cứu ứng dụng phương pháp gamma 
tán xạ trong kiểm tra không hủy mẫu để xác định 
bề dày và khuyết tật của mẫu đo. 
Từ khóa: gamma tán xạ, bề dày bão hòa, ống chuẩn trực đầu dò 
MỞ ĐẦU 
Hiện nay, phương pháp đo gamma tán xạ đang 
được nghiên cứu rộng rãi để ứng dụng cho việc kiểm 
tra không hủy mẫu trong nhiều lĩnh vực của công 
nghiệp như: đo bề dày vật liệu dạng tấm phẳng [20] 
hoặc bề dày thành ng trụ [12] phát hiện và đánh giá 
các lỗ rỗng hoặc thanh thép bên trong bê tông [9, 16], 
ăn mòn hoặc khuyết tật bên trong mẫu kim loại [14, 
19]; xác định các đặc trưng vật lý của vật liệu như 
mật độ kh i lượng [1, 6, 7], hệ s hấp thụ kh i [2], s 
nguyên tử hiệu dụng [3], hàm lượng của một chất bên 
trong hỗn hợp hoặc dung dịch [15, 17]. Trong hầu hết 
các nghiên cứu ứng dụng của phương pháp đo gamma 
tán xạ, dữ liệu tán xạ một lần ghi nhận được từ phép 
đo là thông tin cần thiết mà nó được sử dụng để đánh 
giá đ i tượng cần phân t ch. Trong khi đó, dữ liệu tán 
xạ nhiều lần thường được xem là t n hiệu nhiễu và 
gây ra sai s cho kết quả đo. 
Các kết quả nghiên cứu [5, 8, 10, 12, 18, 20] đã 
chỉ ra rằng s đếm tán xạ một lần và tán xạ nhiều lần 
gia tăng khi bề dày của bia tăng lên, và đạt đến một 
giá trị hầu như không đổi khi bề dày bia lớn hơn một 
giá trị gọi là bề dày bão hòa. Thông thường, bề dày 
bão hòa được xem như là giới hạn trên về bề dày của 
bia trong phép đo gamma tán xạ, tức là sự phân t ch 
chỉ có thể thực hiện được đ i với các mẫu có bề dày 
nhỏ hơn bề dày bão hòa. Do đó, việc nghiên cứu các 
TAÏP CHÍ PHAÙT TRIEÅN KH&CN, TAÄP 20, SOÁ T3–2017 
Trang 69 
yếu t ảnh hưởng đến bề dày bão hòa là rất cần thiết để t i ưu hóa phép đo cho từng trường hợp ứng dụng 
cụ thể. Sự ảnh hưởng của s nguyên tử Z của vật liệu 
bia (Gurvinderjit Singh và các cộng sự [5]), năng 
lượng của tia gamma tới (Manpreet Singh và các 
công sự [10]), góc tán xạ (Kiran và các cộng sự [8]), 
và đường k nh ng chuẩn trực đầu dò (Manpreet 
Singh và các cộng sự [11], Arvind D. Sabharwal và 
các cộng sự [17]) đ i với bề dày bão hòa sử dụng 
thành phần tán xạ nhiều lần đã được nghiên cứu. Tuy 
nhiên, các nghiên cứu hiện nay về ảnh hưởng của các 
thông s lên bề dày bão hòa hầu như chỉ tập trung vào 
thành phần tán xạ nhiều lần, trong khi thành phần tán 
xạ một lần v n là đ i tượng quan trọng lại t được 
đánh giá. 
Trong nghiên cứu này, các phép đo thực nghiệm 
được tiến hành để khảo sát sự ảnh hưởng của đường 
k nh ng chuẩn trực đầu dò lên bề dày bão hòa sử 
dụng thành phần tán xạ một lần. B tr th nghiệm 
g m tia gamma tới có năng lượng 662 keV tán xạ trên 
bia nhôm dạng tấm phẳng và các tia gamma tán xạ 
được ghi nhận bởi đầu dò NaI(Tl) đặt tại vị tr tương 
ứng với góc tán xạ 120o (được mô tả chi tiết trong 
mục 2.1). Dữ liệu phổ tán xạ một lần và tán xạ nhiều 
lần trong phổ gamma tán xạ được xác định dựa trên 
một kỹ thuật xử lý phổ bằng phương pháp làm khớp 
bình phương t i thiểu. Các giá trị bề dày bão hòa theo 
s đếm tán xạ một lần được ước lượng cho những 
hình học đo ứng với ng chuẩn trực đầu dò có đường 
k nh khác nhau. 
VẬT LIỆU VÀ PHƢƠNG PHÁP 
Bố trí thí nghiệm 
B tr th nghiệm sử dụng trong nghiên cứu này 
được chỉ ra trong Hình 1. Trong đó, ngu n phóng xạ 
được sử dụng là ngu n đ ng vị 137Cs, thuộc mẫu P03 
do hãng Eckert&Ziegler sản xuất, có hoạt độ 5 mCi 
để phát ra các tia gamma năng lượng 662 keV. Để 
hạn chế các tia bức xạ đi trực tiếp từ ngu n đến đầu 
dò và ảnh hưởng lên người làm th nghiệm, ngu n 
phóng xạ được đặt bên trong một kh i chì hình trụ có 
đường k nh 10 cm và chiều dài 15,2 cm. Kh i chì này 
có một ng rỗng dạng trụ đường k nh 1 cm và chiều 
dài 10 cm để chuẩn trực cho các tia gamma phát ra từ 
ngu n. Bia tán xạ được làm bằng vật liệu nhôm (Z = 
13) dạng tấm phẳng có k ch thước bề mặt 10x30 cm 
với các bề dày 0,040; 0,200; 0,612; 0,822; 1,010; 
1,236; 1,650; 2,030; 3,020; 3,990; 5,020; 6,020; 
7,050; 7,980; 9,080; 10,050; 11,650 cm và độ bất 
định của bề dày bia là 0,001 cm. Bia tán xạ được đặt 
vuông góc với trục đ i xứng của ng chuẩn trực 
ngu n tại khoảng cách 20,4 cm từ ngu n đến bề mặt 
bia. Một đầu dò nhấp nháy NaI(Tl) có k ch thước tinh 
thể 5,1x5,1 cm, thuộc mẫu 802 do hãng Canberra sản 
xuất, được sử dụng để ghi nhận các tia gamma tán xạ 
phát ra từ bia ứng với góc tán xạ 120o. Đầu dò được 
b tr sao cho trục đ i xứng của nó và trục đ i xứng 
của ng chuẩn trực ngu n nằm trên cùng một mặt 
phẳng và giao nhau tại tâm của bề mặt bia. Khoảng 
cách từ bề mặt bia đến cửa sổ của đầu dò là 15,2 cm. 
Để suy ... lập bởi bất phương trình (3). 
00 I I
I(T I(T u) u )
 (3) 
với 0I(T ) và I(T ) là s đếm tán xạ một lần ghi nhận 
được từ các phép đo trên các bia tán xạ có bề dày 
bằng bề dày bão hòa và vô cùng;
0I
u và Iu là độ bất 
định tương ứng của chúng. Sự phân b của s đếm 
tán xạ một lần ghi nhận được từ một phép đo tuân 
theo phân b Gaussian, do đó 
TI
k. I(Tu ) với k là 
hệ s thể hiện độ tin cậy. Thông thường hệ s k được 
chọn là 1,96 để đạt được độ tin cậy 95 %. 
Mặt khác, sự biến thiên của s đếm tán xạ một 
lần theo bề dày bia tán xạ có thể được biểu diễn bởi 
một hàm toán học (4) [12, 20]: 
 
effSI(T) I . 1 exp( T)  (4) 
với IS là s đếm bão hòa của gamma tán xạ một 
lần
S
T
I lim I(T)
 , µeff là hệ s suy giảm tuyến t nh 
hiệu dụng toàn phần. Các thông s IS và µeff có thể 
được xác định bởi việc làm khớp bình phương tuyến 
t nh các giá trị thực nghiệm của s đếm tán xạ một 
lần theo bề dày bia tán xạ. Từ đó, giá trị bề dày bão 
hòa có thể được t nh toán bởi công thức (5). 
2
0
eff S
T .ln 1
1 k
1
I
  
(5) 
Roi 
Science & Technology Development, Vol 3, No.T20–2017 
Trang 74 
Lưu ý rằng trong công thức (5), bề dày bão hòa 
phụ thuộc vào IS mà hệ s này có liên quan đến thời 
gian thực hiện phép đo và hoạt độ phóng xạ của 
ngu n. Rõ ràng là khi thời gian đo hoặc hoạt độ 
ngu n phóng xạ tăng thì s đếm tán xạ ghi nhận được 
cũng tăng lên. Theo lý thuyết th ng kê, s đếm th ng 
kê càng lớn thì độ bất định tương đ i của nó càng 
nhỏ, do đó khả năng phân biệt được s đếm tán xạ 
của hai bề dày khác nhau càng t t. Như vậy, bề dày 
bão hòa của phép đo gamma tán xạ có thể được tăng 
lên nếu sử dụng các ngu n phóng xạ hoạt độ cao và 
thời gian đo dài. 
KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 
Hình 4 cho thấy một kết quả của việc xử lý phổ 
gamma tán xạ thu được từ phép đo bia nhôm dày 5,02 
cm và ng chuẩn trực đầu dò 2,0 cm, trong đó sự 
phân tách các dữ liệu phổ tán xạ một lần và tán xạ 
nhiều lần đã được thực hiện. Từ những dữ liệu phổ 
này, s đếm tán xạ một lần và tán xạ nhiều lần được 
xác định bằng cách lấy tổng s đếm của từng thành 
phần trong vùng năng lượng quan tâm. Bên cạnh đó, 
có thể thấy rằng đ i với các bia tán xạ dày thì s đếm 
tán xạ nhiều lần đóng góp khá đáng kể trong vùng ghi 
nhận của đỉnh tán xạ một lần. 
Hình 5 trình bày các dữ liệu phổ gamma tán xạ 
một lần của các bề dày bia tán xạ và đường k nh ng 
chuẩn trực đầu dò khác nhau. Có thể quan sát thấy 
rằng, khi bề dày bia tăng thì dữ liệu phổ gamma tán 
xạ một lần được ghi nhận tăng lên, nhưng sau một bề 
dày nhất định thì dữ liệu phổ gamma tán xạ một lần 
hầu như không thay đổi. Đ ng thời, độ rộng của đỉnh 
phổ cũng tăng lên khi bề dày bia gia tăng. Điều này 
có thể được giải th ch như sau: khi bề dày bia tăng lên 
thì xác suất để xảy ra tương tác tán xạ Compton của 
các tia gamma tới với electron trong bia càng lớn, do 
đó cường độ của tia gamma tán xạ một lần đến đầu dò 
và được ghi nhận tăng. Tuy nhiên khi đạt đến một bề 
dày nhất định, các tia gamma tán xạ một lần được tạo 
ra do sự tăng bề dày của bia hầu như bị hấp thụ hoặc 
tán xạ bên trong bia, nên không có sự gia tăng của 
cường độ tia gamma tán xạ một lần đến đầu dò. Mặt 
khác, khi bề dày bia tăng thì phân b năng lượng của 
các tia gamma tán xạ một lần đến đầu dò được mở 
rộng, do có sự đóng góp thêm của các tia gamma tán 
xạ với các góc tán xạ lớn hơn. Điều này dẫn đến độ 
rộng của đỉnh phổ tán xạ một lần tăng lên do sự 
ch ng chập của các phổ đáp ứng như đã thảo luận 
trong mục 2.2. Bên cạnh đó, dữ liệu phổ gamma tán 
xạ một lần ghi nhận được từ phép đo của một bề dày 
nhất định cũng tăng lên khi đường k nh ng chuẩn 
trực đầu dò tăng. Bởi vì đường k nh ng chuẩn trực 
đầu dò càng lớn thì góc kh i tương quan giữa bia và 
đầu dò càng lớn, nên s lượng tia gamma tán xạ một 
lần đến đầu dò càng nhiều. 
100 150 200 250 300 350
0
2000
4000
6000
8000
10000
12000
S
è
 ®
Õm
/K
ªn
h
N¨ng l-îng (keV)
 Phæ gamma t¸n x¹
 Phæ t¸n x¹ mét lÇn
 Phæ t¸n x¹ nhiÒu lÇn
Hình 4. Kết quả xử lý phổ gamma tán xạ của phép đo bia nhôm dày 5,02 cm 
và ng chuẩn trực đầu dò đường k nh 2 cm 
TAÏP CHÍ PHAÙT TRIEÅN KH&CN, TAÄP 20, SOÁ T3–2017 
Trang 75 
100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300
0
500
1000
1500
2000
2500
S
è
 ®
Õ
m
/K
ª
n
h
N¨ng l-îng (keV)
 0,612 cm
 1,010 cm
 1,650 cm
 3,020 cm
 5,020 cm
 6,020 cm
(A) 
100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300
0
2000
4000
6000
8000
10000
12000
 Col. 1,0 cm
 Col. 2,0 cm
 Col. 3,0 cm
 Col. 4,0 cm
 Col. 5,0 cm
S
è
 ®
Õ
m
/K
ª
n
h
N¨ng l-îng (keV)
(B) 
Hình 5. Dữ liệu phổ tán xạ một lần (A) của các bề dày bia tán xạ khác nhau với ng chuẩn trực đầu dò đường k nh 2,0 cm, 
(B) của bề dày bia 5,02 cm với các ng chuẩn trực đầu dò đường k nh khác nhau 
Hình 6 biểu diễn sự biến thiên của s đếm tán xạ 
một lần theo bề dày bia ứng với các ng chuẩn trực 
đầu dò có đường k nh khác nhau. Các s liệu này 
được làm khớp bình phương t i thiểu sử dụng hàm 
(4). Giá trị của những thông s cơ bản của hàm làm 
khớp được trình bày trong Bảng 2. 
Bảng 2. Giá trị của các thông s cơ bản của các hàm làm khớp s đếm tán xạ một lần theo bề dày bia 
Đường k nh ng chuẩn 
trực đầu dò (cm) 
Hệ s của hàm làm khớp bình phương t i thiểu theo (4) 
IS µeff R
2 
1,0 30655,69 0,13095 0,9961 
2,0 177463,74 0,09434 0,9988 
3,0 427861,41 0,08277 0,9996 
4,0 742769,88 0,07966 0,9995 
5,0 936697,31 0,07745 0,9996 
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
0
20000
40000
60000
80000
100000
120000
140000
160000
180000
200000
 Col. 1,0 cm
 Col. 2,0 cm
 §-êng lµm khíp
S
è
 ®
Õ
m
 t
¸
n
 x
¹
 m
é
t
 l
Ç
n
BÒ dµy bia (mm)
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
0
100000
200000
300000
400000
500000
600000
700000
800000
900000
1000000
 Col. 3,0 cm
 Col. 4,0 cm
 Col. 5,0 cm
 §-êng lµm khíp
S
è
 ®
Õ
m
 t
¸
n
 x
¹
 m
é
t 
lÇ
n
BÒ dµy bia (mm)
Hình 6. Sự biến thiên của s đếm tán xạ một lần theo bề dày bia ứng với các ng chuẩn trực đầu dò 
có đường k nh khác nhau và các đường làm khớp tương ứng 
Science & Technology Development, Vol 3, No.T20–2017 
Trang 76 
0 1 2 3 4 5
0
1
2
3
4
5
6
7
8
B
Ò 
d
µ
y
 b
·
o
 h
ß
a
 (
cm
)
§-êng kÝnh èng chuÈn trùc ®Çu dß (cm)
Hình 7. Sự biến thiên của bề dày bão hòa theođường k nh ng chuẩn trực đầu dò 
khi sử dụng thành phẩn phổ tán xạ một lần 
Sau đó, bề dày bão hòa tương ứng với s đếm tán 
xạ một lần được t nh toán theo công thức (5), sử dụng 
các giá trị của hàm làm khớp trong Bảng 2, cho các 
 ng chuẩn trực đầu dò có đường k nh khác nhau. Kết 
quả cho thấy, bề dày bão hòa tăng lên khi đường k nh 
của ng chuẩn trực đầu dò tăng. Sự phụ thuộc của bề 
dày bão hòa theo s đếm tán xạ một lần vào đường 
k nh ng chuẩn trực đầu dò có thể được làm khớp bởi 
một hàm có dạng toán học của (4), như được chỉ ra 
trong Hình 7. 
KẾT LUẬN 
Trong nghiên cứu này, một kỹ thuật xử lý phổ 
gamma tán xạ cho phép xác định dữ liệu tán xạ một 
lần và tán xạ nhiều lần được trình bày. Đ ng thời, 
một công thức để ước lượng bề dày bão hòa của s 
đếm tán xạ cũng được xây dựng dựa trên suy luận 
th ng kê. Theo công thức này, khái niệm bề dày bão 
hòa còn phụ thuộc vào s lượng th ng kê của các tia 
gamma tán xạ được ghi nhận, có liên hệ với hoạt độ 
ngu n và thời gian đo. Các dữ liệu thực nghiệm đã 
được cung cấp để chỉ ra sự gia tăng của bề dày bão 
hòa theo sự tăng lên của đường k nh ng chuẩn trực 
đầu dò trong phép đo gamma tán xạ sử dụng thành 
phần phổ tán xạ một lần. Các kết quả đạt được trong 
nghiên cứu có thể được ứng dụng trong việc t i ưu 
hóa hệ đo phân t ch không hủy mẫu trong công 
nghiệp. 
Lời cảm ơn: Nghiên cứu này được tài trợ bởi Trường 
Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Thành 
phố Hồ Chí Minh trong khuôn khổ Đề tài mã số 
T2015-08. 
TAÏP CHÍ PHAÙT TRIEÅN KH&CN, TAÄP 20, SOÁ T3–2017 
Trang 77 
The effect of the diameter of the detector 
collimator on saturation thickness in gamma 
scattering measurement 
 Huynh Dinh Chuong 
 Vo Hoang Nguyen 
 Le Thi Ngoc Trang 
 Nguyen Thi Truc Linh 
 Tran Kim Tuyet 
 Tran Thien Thanh 
University of Science, Vietnam National University-Ho Chi Minh City 
ABSTRACT 
The effect of the diameter of the detector 
collimator on the saturation thickness in 
gamma-scattering measurements is studied 
using the spectrum of singly scattering. 
Geometric arrangement of gamma-scattering 
measurement includes: a gamma-ray collimated 
beam with the energy of 662 keV emitted from 
137
Cs source is irradiated on a rectangular 
aluminium target with incident angle of 90
o
, and 
detector NaI(Tl) 5.1cmx5.1cm with collimator is 
used to record the scatterd gamma rays at 
scattered angle of 120°. The experimental 
measurements are carried out to obtain 
scattered spectra with various target thickness 
and diameter of detector collimator. The profile 
of the singly scattering and multiply scattering in 
the scattered spectra are determined by a 
spectrum processing technique based on the 
least squares fitting. The experimental results 
showed that the saturation thickness of the 
counts of singly scattering increases with 
increasing the window diameter of the detector 
collimator. These results will support for the 
non-destructive testing research of application 
of gamma-scattering method to determine the 
thickness or the defect of the sample. 
Key words: gamma scattering, saturation thickness, detector collimator 
TÀI LIỆU THAM KHẢO 
[1]. S. Ashrafi, O. Jahanbakhsh, D. Alizadeh, 
Application of artificial neural network in non-
destructive Compton scattering densitometry, 
Nuclear Instruments and Methods in Physics 
Research A, 760, 1–4 (2014). 
[2]. A. El Abd, A method for determination mass 
absorption coefficient of gamma rays by Compton 
scattering, Applied Radiation and Isotopes, 94, 
247–253 (2014). 
[3]. Y. Demet, T. Ahmet, U. Zeynep, K. Demet, 
Measurement of effective atomic number of 
gunshot residues using scattering of gamma rays, 
Radiation Physics and Chemistry, 102, 68–71 
(2014). 
[4]. J.E. Fernandez, Compton and Rayleigh double 
scattering of unpolarized radiation, Physical 
Review A, 44 4232–4248 (1991). 
[5]. S. Gurvinderjit, S. Manpreet, S. Bhajan, B.S. 
Sandhu, Experimental observation of Z-
dependence of saturation depth of 0.662 MeV 
multiply scattered gamma rays, Nuclear 
Instruments and Methods in Physics Research B, 
251, 73–78 (2006). 
[6]. O. Jahanbakhsh, S. Ashrafi, B. Salehpour, R.B.H. 
Abadi, N. Khaiiatali, Industrial scattering 
densitometry using a mCi gamma-ray source, 
Nuclear Instruments and Methods in Physics 
Research A, 726, 47–51 (2013). 
Science & Technology Development, Vol 3, No.T20–2017 
Trang 78 
[7]. M. Khorsandi, S.A.H. Feghhi, Design and 
construction of a prototype gamma-ray 
densitometer for petroleum products monitoring 
application, Measurement, 44, 1512–1515 (2011). 
[8]. K.U. Kiran, K. Ravindraswami, K.M. Eshwarappa, 
M.H. Somashekarappa, Angular dependence of 
multiple scattered photons and saturation thickness 
for certain elements by gamma scattering method, 
Radiation Physics and Chemistry, 119, 116–124 
(2016). 
[9]. M. Margret, M. Menaka, B. Venkatraman, S. 
Chandrasekaran, Compton back scatter imaging 
for mild steel rebar detection and depth 
characterization embedded in concrete, Nuclear 
Instruments and Methods in Physics Research B 
343, 77–82 (2015). 
[10]. S. Manpreet, S. Gurvinderjit, S. Bhajan, B.S. 
Sandhu, Experimental observation of energy 
dependence of saturation thickness of multiply 
scattered gamma photons, Radiation Physics and 
Chemistry, 77, 991– 995 (2008). 
[11]. S. Manpreet, S. Gurvinderjit, B.S. Sandhu, S. 
Bhajan, Effect of detector collimator and sample 
thickness on 0.662 MeV multiply Compton-
scatterd gamma rays, Applied Radiation and 
Isotopes, 64, 373– 378 (2006). 
[12]. V.H. Nguyen, H.D. Tam, L.B. Tran, T.T. Thanh., 
H.T. Le, L.D.M. Quan, H.D. Chuong, T.N.T. 
Ngan, C.V. Tao, A semi-empirical method for 
measuring thickness of pipe-wall using gamma 
scattering technique, Journal of Radioanalytical 
and Nuclear Chemistry, 3, 308,1011–1016 (2016). 
[13]. C. Philippe, B. François, K. John, Example of 
Monte Carlo uncertainty assessment in the field of 
radionuclide metrology, Metrologia, 52, S42–S50 
(2015). 
[14]. P. Priyada, M. Margret, R. Ramar, S.M. Menaka, 
L. Thilagam, B. Venkataraman, R. Baldev, 
Intercomparison of gamma scattering, 
gammatography, and radiography techniques for 
mild steel nonuniform corrosion detection, Review 
of Scientific Instruments, 82, 035115 (2011). 
[15]. P. Priyada, R. Ramar, Shivaramu, An improved 
Compton scattering method for determination of 
concentration of solutions, Applied Radiation and 
Isotopes,70, 2421–2427 (2012). 
[16]. P. Priyada, R. Ramar, Shivaramu, Application of 
gamma ray scattering technique for non-
destructive evaluation of voids in concrete, 
Applied Radiation and Isotopes, 74, 13–22 (2013). 
[17]. P. Priyada, R. Ramar, Shivaramu, Determining the 
water content in concrete by gamma scattering 
method, Annals of Nuclear Energy, 63, 565–570 
(2014). 
[18]. A.D. Sabharwal, B.S. Sandhu, S. Bhajan, 
Investigations of effect of target thickness and 
detector collimation on 662 keV multiply back 
scattered gamma photons, Radiation 
Measurements, 44, 411–414 (2009). 
[19]. I.L.M. Silva, R.T. Lopes, E.F.O. Jesus de, Tube 
defects inspection technique by using Compton 
gamma-rays backscattering, Nuclear Instruments 
and Methods in Physics Research A 422, 957–963 
(1999). 
[20]. H.D. Tam, H.D. Chuong, T.T. Thanh, V.H. 
Nguyen, H.T.K.Trang, C.V. Tao, Advanced 
gamma spectrum processing technique applied to 
the analysis of scattering spectra for determining 
material thickness, Journal of Radioanalytical and 
Nuclear Chemistry1, 303, 693–699 (2015) .